MBD模型质量检测与管理
- MBDVidia软件——3D CAD模型格式转换+3D模型PMI标注查检与管理+导入测量结果到3D模型+自动生成 FAI 和其他报告+2D图纸气泡图自动生成
- CAD系统的MBD模型质量管理功能插件——真正的MBD模型+3D CAD模型格式转换+2D图纸气泡图自动生成+PMI标注检查+测量结果导入 MBD 模型+FAI报告自动生成
- CompareVidia软件——CAD模型数据转换验证软件+自动生成可定制验证报告+符合波音D6-51991规范+CAD模型文件版本管理+3D PMI标注管理
- Pundit软件——智能CMM检测模拟软件+优化测量计划+测量计划不确定性分析+模拟检测过程+查找 GD&T中的缺陷
环境应力激励测试
振动与位移应变测量
声音与振动测量
生物力学分析
SPI表面压力全场测量系统
SP-SWI/SP-DWI 光学静态/动态表面轮廓测量仪-动态/静态形貌量测+共振频率侦测
SP-SWI/SP-DWI 光学静态/动态表面轮廓测量仪可以快速地进行纳米级3D轮廓测量、谐振频率检测，
并对检测对象表面的粗糙度、平整度、厚度、台阶高度进行分析：
-快速静态分析
SP-DWI/SWI 提供友好的用户界面、非接触式、快速、纳米级精确的 3D 轮廓测量。它适合分析任何反射率至少为 1% 的材料表面。可以进行粗糙度和台阶高度分析。
-动态测量
利用高频频闪（>1MHz），SP-DWI可以测量MEMS的动态特性，例如振动模式和周期性振动运动的表面轮廓。
