资深HALT测试工程师与您分享常见的产品失效模式！
发布时间：
2023-07-04 12:13
来源：
在进行HALT测试时，产品的性能会发生剧烈或是缓慢的变化 ，当变化达到一定程度时，产品将不能再正常工作，这种情况，我们称之为产品失效。
温度引起的失效模式：
参数漂移与电路稳定性
开路，短路，公层等
电路板腐蚀
电路板裂纹，表面和过孔缺陷
元器件缺陷
元器件松动等
开焊，冷焊或焊料不足
连线伸张或松脱等
接触不良
紧固件缺陷
脆性断裂
电迁移
浪涌电流
金属化
密封失效等
振动引起的失效模式：
电路开路，短路
元器件松脱
相邻元件短路
元器件管脚断裂／缺陷
IC插座缺陷
虚焊，开焊，冷焊，焊料不足或没有焊接
粘结不牢
连线松脱或连接不好
硬件松脱
紧固件或护垫松动
晶体缺陷
机械缺陷
包装缺陷
外来物引起的各种失效等等
湿度引起的失效模式：
电气短路
活动陷器件卡死
电路板腐蚀
表层损坏
绝缘材料性能降低
以及其它诱发的缺陷
经过长期经验的积累，我们的试验工程师基于产品失效产生的原因，归纳出九大常见模式，并提供了图片给大家参考：
1．Pin断脚
2、冷焊及空焊
3、FLT
4、线材松脱
5、材料不良
6、烧毁或炸机
7、人为因素
8、结构不良
9、正常损耗
针对HALT测试时产品失效模式进行分析后，有经验的工程师则可以快速提供测试报告，评估产品可靠性，也方便设计人员改进工艺，完善产品设计。
HALT&HASS,高加速寿命试验,可靠性检测,产品失效